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CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能。 它與測試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能測試 。

CGO-4高低溫真空探針臺(tái)測試系統(tǒng) 77K-675K（液氮）； 超高溫度分辨率； 低溫具有*穩(wěn)定性

CT-6非真空高低溫探針臺(tái)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試 采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜

CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針臺(tái)大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試 ； 可滿足500度高溫測試 ； 溫度穩(wěn)定性高 ；兼容IV/CV/RF測試

CW-4 IGBT高壓大電流測試探針臺(tái)大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試 ； 可升級(jí)做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用

CH-12綜合性分析探針臺(tái)測試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

CINDBEST CH-8|8~12“ 探針臺(tái)測試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺(tái)CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng) ； 可升級(jí)做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用